菲希尔 PHASCOPE PMP10手持式测厚仪
菲希尔 E X-RAY XDV-? X射线荧光
菲希尔 PHASCOPE PMP10 DUPLEX测厚
菲希尔 MMS PC2测量镀层厚度和材料
菲希尔 X-RAY XDAL X射线荧光分析
菲希尔 SIGMASCOPE?SMP350电导率检
菲希尔 GOLDSCOPE SDX射线荧光仪器
菲希尔 X射线光学器件
菲希尔 涂镀层厚度测量探头
菲希尔 HM2000 S纳米压痕测量系统
产品详情
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根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪
高端半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率
XAN250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；
准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm
基本滤片：固定或6种可切换
固定样品支架或手动XY载物台
摄像头可轻松定位最佳测量位置
样品高度最多17厘米;
牙科合金的无损分析，银测试
多层镀层测试
电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析
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消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量
根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量
