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产品详情
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在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限，这就是COULOSCOPE?CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。
库仑法的成本效益高，可精确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了最大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。
如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度，非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。
高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)
根据DIN EN ISO 2177进行测量
通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作
可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)
针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用
测量单元上电压曲线的图形显示
图形和统计评估
带支撑架的部分自动化测量，适用于各种样品尺寸
全面的配件组合，以适应特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
同时测量镀层厚度和电位差
根据ASTM B764 - 04和DIN EN 16866进行电位差测试
银参比电极测量前的准备工作(产生必要的AgCl层)
电解电流可调整
可直接在测厚仪显示器上评估电位曲线
电镀生产过程中的监控和成品的进厂检验
可以精确测量多种金属镀层的厚度0.05–50?m(根据材料不同)
金属和非金属基材上单层和多层镀层厚度的测量
多镀层体系：例如在铁或塑料基体(ABS)上镀铬/镍/铜等多层镀层
双镀层体系：例如银或铜上面镀锡或镀镍
单镀层如铁上镀锌
