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体验Fischer模块化测量系统的灵活性，台式FISCHERSCOPE?MMS?PC2，用于涂镀层厚度测量和材料测试。通过8个可插入式模块，可以完全根据您的具体测量和测试需求定制
最后更新：2022-04-21
FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-μSEMI专为半导体行业中的质量控制而设计，可全自动精确测量晶片上的微结构。 整个自动化装置是封闭的，非常适合在洁净室使用。 FOUP
最后更新：2022-04-21
带状电镀样品的自动XRF测量系统FISCHERSCOPE? X-RAY 4000设计用于带状电镀过程中测量镀层厚度，用于检查冲压件和热风焊料整平带或箔膜上的金属镀层。例如在测量
最后更新：2022-04-21
用于光伏的自动XRF系统FISCHERSCOPE? X-RAY 5000系统可以连续测量大面积基板（例如在光伏中）上薄镀层的厚度。该系列的设备由模块化单元组成，易于在生产线上安
最后更新：2022-04-21
专业级纳米压痕测量系统在材料测试中，动态方法已日渐成为经典纳米压痕测试的补充。如动态力学分析(DMA)，它允许测试物质的粘弹性特性。FISCHERSCOPE?HM2000能够
最后更新：2022-04-21
自动化涂镀层厚度测量和材料测试的最佳解决方案模块化测量系统FISCHERSCOPE?MMS?Automation 是在线涂镀层厚度测量和材料测试的理想解决方案。它的标准化接口使质
最后更新：2022-04-21
用于高测量需求任务的高端测量技术PICODENTOR?HM 500将高端技术和简单操作结合起来。该仪器的设计用于精度极高的仪器化纳米压痕测试和动态力学分析。它可以根据
最后更新：2022-04-21
一台精准的测量仪器并不需要很复杂。FISCHERSCOPE?HM2000S纳米压痕测量系统证明了这一点。这性价比高的入门级仪器可以让您快速且轻松地检查表面覆盖层的力学性能
最后更新：2022-04-21
