以橱窗方式浏览 | 以目录方式浏览
供应产品
产品分类
满足复杂需求的X射线荧光分析FISCHERSCOPE?X射线 XDAL?是 XDL系列中最好的X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟”一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状
最后更新：2022-04-21
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪高端半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和
最后更新：2022-04-21
特点无损、快速、精确的金测试宽敞的测量室紧凑而坚固的设计，适合长期使用无需样品制备。只需简单地将物品放在测量室的测量窗口上摄像头会为您显示确切的测量位
最后更新：2022-04-21
FISCHERSCOPE? X-RAY XULM?-PCB是进行简单测量和抽查的理想选择。它配有比例接收器检测器，可缩短测量时间。该X-RAY 荧光仪推荐用于厚度大于0.1?m的镀层测量。标
最后更新：2022-04-21
FISCHERSCOPE? XDV?-μ光谱仪是Fischer的高端X射线荧光系列，专为在最小的结构上进行精确的镀层厚度测量和材料分析而开发。所有仪器都配备了一个多毛细管光学元
最后更新：2022-04-21
X射线毛细管光学器件用于引导和塑形X射线。这种系统要么是单毛细管，如圆柱形、椭圆形或抛物面毛细血管，要么是多毛细管，由大量空心毛细管通道组成的完整系统。
最后更新：2022-04-21
高端全能型XDV?-SDD是Fischer产品组合中功能最强大的X射线荧光分析仪之一。该XRF光谱仪配备了特别灵敏的硅漂移检测器（SDD）。这使您能够无损地测量最薄的镀层，
最后更新：2022-04-21
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作
最后更新：2022-04-21
